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一种测试效率高的集成电路测试装置

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联系人:杨辉
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成果介绍

中华人民共和国国家知识产权局

实用新型专利

  • 授权公告号: CN 211402624 U
  • 授权公告日: 2020.09.01
  • 申请号: 201921623796.0
  • 申请日: 2019.09.27
  • 专利权人: 四川豪威尔信息科技有限公司
  • 地址: 621000 四川省绵阳市科创区孵化大楼C区4楼1716创业工场
  • 发明人: 向彦瑾
  • 专利代理机构: 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411
  • 代理人: 黄冠华

国际专利分类:

  • G01R 31/28(2006.01)
  • G01R 1/04(2006.01)

文件内容:

  • 权利要求书: 1页
  • 说明书: 3页
  • 附图: 2页

实用新型名称

一种测试效率高的集成电路测试装置

摘要

本实用新型公开了一种测试效率高的集成电路测试装置,包括支撑台,所述支撑台的上端滑动连接有导向座,所述导向座的前端通过螺纹连接有铰接钉,所述铰接钉的外侧铰接有挡块,所述导向座内滑动连接有支撑板,所述支撑板的前端设置有支撑凸条,所述支撑板的上端粘合有橡胶垫,所述橡胶垫的上端摆放有集成电路板,所述集成电路板与导向座滑动连接。该测试效率高的集成电路测试装置通过采用两个导向座的配合对集成电路板进行导向,且设计方便使用的挡块对集成电路板进行定位,防止集成电路板发生水平移动。

权利要求书

CN 211402624 U 1/1页

  1. 一种测试效率高的集成电路测试装置,包括支撑台(1),其特征在于:所述支撑台(1)的上端滑动连接有导向座(3),所述导向座(3)的前端通过螺纹连接有铰接钉(4),所述铰接钉(4)的外侧铰接有挡块(5),所述导向座(3)内滑动连接有支撑板(6),所述支撑板(6)的前端设置有支撑凸条(12)……
  2. 根据权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试装置,其特征在于:所述支撑台(1)上开设有导向孔(2),所述导向孔(2)的数量为两个,且每个导向孔(2)内均滑动连接有导杆(9)。
  3. ……

说明书

CN 211402624 U 1/3页

技术领域
本实用新型涉及集成电路板加工技术领域,具体为一种测试效率高的集成电路测试装置。

背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件……

附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图;
图2为本实用新型的图1的A部结构放大图;
图3为本实用新型的图1的局部结构俯视图;
图4为本实用新型的图2的B部结构放大图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述……



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